韩国X射线电镀膜厚仪

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　　X射线电镀测厚仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

　　测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。

　　相容Microsoft微软作业系统之测量软ti，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。

　　标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

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　　XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*

　　同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果

　　甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，

　　可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。

　　主营产品：X射线镀层测厚仪,日本共立测试包,电镀测厚仪,X-RAY膜厚仪